全站仪测量出AB两点盘左盘右的垂直角后怎么计算半测回垂直角?
系科仪器
2024-08-02 广告
2024-08-02 广告
椭偏仪和台阶仪是两种重要的测量仪器。椭偏仪主要用于探测薄膜厚度、光学常数及材料微结构,通过测量光的偏振状态来分析,适用于半导体、通讯等领域,具有非接触、非破坏性的优点。而台阶仪则专注于测量材料表面台阶和微观形貌,常用于质量控制、工业生产和科...
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第1个问题:
随着对光栅盘的应用、以及软件的内插和残差计算及消除技术的改进,全站仪的测角系统精度越来越高,误差越来越小。对于要求不高等级测量,可不用多测回测量;但对于高等级的,为了取均值以弱化竖轴的隙动对水平测角系统的影响,多测回还是必要的。
第2个问题:
现在全站仪测角系统中应用最多的有增量编码盘和绝对式编码光栅盘(当然还有磁碟式,二极管模拟式等)。盘多数是玻璃材料或者树脂材料,能根据要求在特定位置透光。增量式盘有光栅主盘和辐盘组成,绝对式的只有单盘组成。为了透光,所有的盘上都有特定的刻划线(随着工艺改进现在多数不用刻划工艺,直接用化学涂层间隔透光狭缝),刻划或涂层间隔是有误差的。但现在全站仪的测角系统是个复杂的较智能的系统,多数都可用软件控制或者自动纠错。
但要说明的是,对于增量式仪器尽管对仪器的防水防尘等级要求不高,但盘灰尘多的情况下会引起信号紊乱。对于绝对式的要求防水防尘等级高,不允许灰尘进入盘表面。这样容易造成误读。
随着对光栅盘的应用、以及软件的内插和残差计算及消除技术的改进,全站仪的测角系统精度越来越高,误差越来越小。对于要求不高等级测量,可不用多测回测量;但对于高等级的,为了取均值以弱化竖轴的隙动对水平测角系统的影响,多测回还是必要的。
第2个问题:
现在全站仪测角系统中应用最多的有增量编码盘和绝对式编码光栅盘(当然还有磁碟式,二极管模拟式等)。盘多数是玻璃材料或者树脂材料,能根据要求在特定位置透光。增量式盘有光栅主盘和辐盘组成,绝对式的只有单盘组成。为了透光,所有的盘上都有特定的刻划线(随着工艺改进现在多数不用刻划工艺,直接用化学涂层间隔透光狭缝),刻划或涂层间隔是有误差的。但现在全站仪的测角系统是个复杂的较智能的系统,多数都可用软件控制或者自动纠错。
但要说明的是,对于增量式仪器尽管对仪器的防水防尘等级要求不高,但盘灰尘多的情况下会引起信号紊乱。对于绝对式的要求防水防尘等级高,不允许灰尘进入盘表面。这样容易造成误读。
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i角=(R+L-360°)÷2,半测回垂直角=90°-(L+i)
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