Question

在XRD图形中能看出晶粒尺寸吗

Answer 1

问：在XRD图形中能看出晶粒尺寸吗

答：亲亲，您好，很高兴为您解答，关于您的问题解答如下：可以的，在一定程度上，XRD图形可以反映晶粒尺寸的信息。具体来说:1.XRD图形中的峰宽度与晶粒尺寸有关。晶粒越小,峰宽度越大;晶粒越大,峰宽度越小。这是因为小晶粒的取向差异更大，致使衍射峰的弥散角更大，从而峰宽变广。2.晶粒尺寸D和峰宽度β呈现Hall-Williamson关系:D=K入/Bcosθ。这里，K是常数，入是X射线波长，日是衍射角。因此，可以通过测量衍射峰的宽度3结合入和日值计算出晶粒尺寸D。3.然而,XRD图形无法直接显示晶粒的形状、分布和界定面信息。只能得出各向异性晶粒混合体系的平均晶粒尺寸，精度有限。需要联用扫描电镜等手段获取更详细的微结构信息。

答：4.另外,XRD测量存在仪器本身的峰宽度效应，这会导致计算得到的晶粒尺寸比实际值小。需要根据仪器的流行度曲线对峰宽度进行修正，才能得到较为准确的晶粒尺寸。5.总体来说XRD可以快速大致推断材料的平均晶粒尺寸，但精度和准确度会受许多因素的影响。对晶粒尺寸要求高的精密测量和表征,仍需要借助其他手段进行配合。

问：峰的宽度怎么看

答：在XRD图形中,峰宽度的测量方法主要有两种:1.全宽半高法(FWHM):在衍射峰的中心线上向两侧扩展，直到峰高降为中心线峰高的一半，所夹角的角度差即为峰宽FWHM。这是最简便常用的方法，但对宽而平的峰效果较差。2.峰面积法:在衍射峰图形中选取两个峰高度,比如1/4峰高和3/4峰高，以这两个点与背景基线围成的区域作为峰面积。然后计算出峰面积与高的比值，用比值除以4得到的角度差即为峰宽。这种方法对各种形状的峰都有较好的适应性。