Question

如何测试74ls20、74ls00芯片内部与非门的好坏

Answer 1

74ls20和74ls00是常见的数字集成电路芯片，其中包含与非门电路。测试这些芯片内部与非门的好坏需要一些技巧和仪器。以下是具体的步骤和建议。
首先，我们需要一台万用表或数字万用表来测试这些芯片。将芯片插入它所在的印刷电路板中，并将电路板插入万用表的测试插口。首先设置万用表为测试连续性模式，检查与非门的引脚是否被正确连接。如果存在不连通的引脚，则该芯片可能已经坏掉。
接下来，我们可以使用数字电压测试模式来测量与非门的输入和输出电压。在测试之前，需要确定测试点位置和电路板电源的极性。输入端可以选择一个引脚作为输入，并将另一个输入置为逻辑高电平。然后，我们可以查看输出引脚上是否有预期的逻辑电平。重复该过程，更改输入引脚的状态以检查所有可能的输入组合。
最后，我们可以使用示波器来查看与非门的输入和输出信号。使用将示波器接到芯片引脚时，需要配置示波器以正确地捕捉到高速信号。然后，我们可以输入正弦波信号或方波信号，并观察输出信号的形状和延迟。如果输出信号的形状不是我们期望的形状，或者存在延迟，那么该芯片可能已经失效。
总之，测试74ls20和74ls00芯片内部与非门的好坏需要一些仪器和技巧。我们可以使用万用表测试连通性和电压值，使用示波器检测信号波形和延迟，以判断芯片是否正常工作。