Question

测试器件时夹具的正确使用方法及注意事项

Answer 1

问：测试器件时夹具的正确使用方法及注意事项

答：亲，您好哦！测试器件时夹具的正确使用方法及注意事项如下：一、设备原因致使电子拉力试验机打滑 设备原因主要有拉力机在拉试样时由于氧化铁皮落入楔形块斜面而引起打滑。金属试样在进行拉拔过程中产生金属氧化铁皮，氧化铁皮会落入到楔形块与夹具相结合的斜面中，使得斜面的平整度被破坏、表面粗糙度严重下降，使楔形口（楔形块）运动不灵活，在拉力不断增加时，楔形块沿燕尾斜面的滑动中产生爬行（跳跃行进）。拉伸加载过程中时常出现的叭、叭之声，就是这样产生的。这就是通常所说的打滑。二、人为因素致使电子拉力试验机打滑 造成电子拉力试验机打滑的人为因素是由于操作人员在进行试验时没有按试验的正确方法进行操作而造成的。主要有两方面的因素：试样夹持长度较短和夹具的钳口选择不当。1、试验夹持长度较短 试验机夹具的正确使用方式应该是，在试件的夹持长度与夹具齿面长度相同时，先借助外力推动钳口，使其在夹持面上产生初始摩擦力，再通过试验机横梁的移动对试样加载，摩擦力拉动钳口（楔形口）时由于斜面的作用，轴向拉力越大，产生的夹持力也越大，试验机夹具体上有两个斜面的楔形口正是依据上述夹持方式，按照接受均匀压应力设计的。但是，有些操作人员并没有按照试验机的使用要求进行操作，试样夹持长度较短，或者是试样加工的就太短，造成楔形口斜面受力不均楔形口局部应力远远超过材料的屈服强度，从而使楔形口产生塑性变形、严重外翻，使楔形口斜面塌陷或磨损。夹具在这种情况下继续使用，减小了楔形口的角度，使夹具本体受力状态恶化而出现打滑现象。2、夹具的钳口选择不当 电子拉力试验机夹具有多种不同的规格和夹面，针对不同的试样采用不同的夹头，有些操作人员在试验时，使用大规格钳口夹持小截面试样，或使用平夹头夹持大试样，使得夹具与试样接触不紧密，摩擦系数明显降低，直观的表现为夹具的鳞状尖峰被除数磨平，摩擦力大幅度的减小。当试样受力逐渐增大达到大静摩擦力时，试样就会打滑，从面产生虚假屈服现象。如果我的解答对您有所帮助，还请给个赞(在左下角进行评价哦)，期待您的赞，您的举手之劳对我很重要,您的支持也是我进步的动力。如果觉得我的解答还满意,可以点我头像一对一咨询。最后再次祝您身体健康,心情愉快!

问：测试电子元器件的夹具

答：随着电子元器件制造技术的进步和发展，电子元器件的集成度越来越高，管脚间距越来越小，管脚数量却越来越多。电子元器件在产品开发中引入时，往往会进行一系列测试工作来验证器件的性能及与系统的匹配能力。如图1所示，常规测试板的的顶面中部开有用于放置待测电子元器件的限位凹槽，限位凹槽周围设置有焊盘、引线槽。在电子产品的开发过程中，往往会对关键的电子元器件进行测试验证，并选定替代物料。电子元器件的验证和测试工作是在测试板上完成的。当一款电子元器件有多个厂商备选供验证时，为节省开发成本，仅制备少量的测试板，一家供应商的电子元器件测试验证完成后拆掉，替换上另外一家供应商的电子元器件进行测试。测试板经过多次焊接拆卸，测试板上的焊盘受到损坏，影响测试效果。当该关键电子元器件焊接在开发板上后拆卸困难或不便拆卸时，往往不得不制备多块测试板对各供应商的电子元器件进行测试。另一种方案是为每家供应商的电子元器件均制备测试板。这种情况下测试板的利用效率不高，而且造成一定的浪费。另外，考虑到测试板的制备时间，开发进度难保证，开发周期长，开发成本高。

答：本发明的目的是提供一种便于电子元器件拆装的电子元器件测试夹具。为实现上述目的，本发明提供了以下技术方案：一种电子元器件测试夹具，包括层叠设置的夹板和驱动电路板，所述驱动电路板和夹板上均设有与待测电子元器件管脚相匹配的过孔；所述驱动电路板和夹板上相背的两侧设有磁铁，所述磁铁的内部磁感线方向与夹板和驱动电路板的板面垂直，且夹板上的磁铁与驱动电路板上的磁铁的极性布置方向相同；当所述夹板上的过孔与驱动电路板上的过孔正对时，夹板上的磁铁与驱动电路板上的磁铁错开布置，两磁铁之间的磁力能够使夹板和驱动电路板产生相互剪切的趋势，进而使待测元器件的管脚被夹板和驱动电路板上的过孔的孔壁夹紧。优选的，所述驱动电路板的一侧即与夹板相背的一侧设有导热板，所述待测电子元器件的管脚从该侧插入所述过孔，且待测电子元器件的底面与导热板紧密贴合，所述导热板上连有散热翅片。优选的，所述导热板与驱动电路板之间设有绝缘垫。优选的，所述夹板和驱动电路板上设有两组磁铁，两组磁铁呈一字型布置在待测电子元器件的管脚两侧，且两组磁铁的错开方向相同。优选的，所述夹板和驱动电路板上的磁铁相互错开磁铁自身长度的50％设置。优选的，所述驱动电路板上与夹板对应区域的线路布设于与夹板相背的一侧，该区域的线路通过该区域边缘开设的过线孔与驱动电路板另一侧的主线路导通。本发明的技术效果在于：本发明采用剪切运动的方式将待测电子元器件的管脚夹紧，并采用磁铁提供夹紧力，能够实现待测电子元器件的快速拆装，并且拆装过程中不会损伤管脚。附图说明图1是本发明的实施例所提供的立体结构示意图；图2是本发明的实施例所提供的主视图，图中apd管脚处于松开状态；图3是本发明的实施例所提供的主视图，图中apd的管脚处于夹紧状态；图4是本发明的实施例所提供的驱动电路板结构示意图；图5是本发明的实施例所提供的夹板结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本发明进行详细的描述。如图1～5所示，本实施例以apd的检测为例，对本发明的技术方案进行详细说明。一种apd测试夹具，包括层叠设置的夹板12和驱动电路板11，所述驱动电路板11和夹板12上均设有与待测apd10的管脚101相匹配的过孔111、121；所述驱动电路板11和夹板12上相背的两侧设有磁铁13，所述磁铁13的内部磁感线方向与夹板12和驱动电路板