声发射的仪器相比较
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声发射从技术产生开始到现在一直在发展。声发射仪器也是一直在进步。有将这个发展简单的分了一下阶段,您可以看一下。
第一阶段,1965年,美国Dunegan推出了首台商业化的声发射仪,一直到1983年基本都是纯模拟技术实现的声发射仪,也是第一代声发射仪;
第二代声发射仪,1983~1994年,美国PAC的SPARTAN-AT开始引入微处理器,并将声发射系统模块化,部分数字化;
第三代声发射仪,1994~2003年,美国DW、美国PAC和德国Vallen将声发射仪全面数字化,声发射传感器接收到的信号经过放大器放大之后直接经AD变换器专为数字信号,然后用数字电路硬件提取特征参数,并按照PDT、HDT、HLT等时间常数来提取声发射波形;
第四代声发射仪,2003~2015年,美国PAC将18bit的高速ADC引入PCI总线声发射卡,开启了18bit的高精度采集,除了特征参数和波形外,还启用了包含全部原始信息的波形流功能。在此期间,USB接口的声发射仪也开始出现,并逐步从USB2.0发展到USB3.0,总线传输速度也从40MB提高到400MB;
第五代声发射仪,2015至今,中国的鹏翔公司推出了PCIE总线的声发射卡,单卡8通道,每通道18bit30M采样,频率带宽高达1kHz~5MHz,且采用PCIE x8倍速传输,板卡传输带宽高达3GB/s,第四代声发射仪存在的传输瓶颈得到解决。除了声发射特征参数和波形的硬件实时提取之外,波形流功能也得以不受带宽限制的全速采集和实时传输。同时,适合分布式检测的千兆网接口的网络声发射仪开始出现,并将逐步向光纤传输发展,实现远距离的分布式声发射检测。
从频率上来划分:
第一个阶段,Dunegan等人把声发射的实验频率提高到100kHz-1MHz;
第二阶段,声发射仪器的信号带宽提高到100kHz~1.2MHz;
第三阶段,声发射仪器的信号带宽拓宽到1kHz~2MHz;
第四阶段,声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~3MHz;
第五阶段,声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~5MHz;
随着PCIE总线技术和高速ADC的发展,未来可能还会出现10MHz信号频率甚至更高频率的声发射仪。其实,早在1989年10月,日本富士陶瓷公司就生产出了10MHz的标准声发射传感器(型号REF10M)。
从信号获取及分析的方式来看,
第一个阶段,声发射仪采用的是纯模拟的技术;
第二阶段,微处理器被引入到声发射仪中,开始形成模拟和数字电路混合的仪器,信号分析主要是对特征参数进行分析;
第三阶段,声发射仪在信号放大进入ADC之后全面数字化,除了特征参数外,还出现了声发射波形的分析手段;
第四阶段,声发射仪器开始PCI及USB总线化,ADC的采样精度和采样率得以大幅提高,除了特征参数和波形外,还存储了包含全部原始信息的波形流信号。仅仅是由于总线带宽限制而无法获得多通道的全部波形流文件;
第五阶段,声发射仪开始使用PCIE总线,第四代仪器存在的总线带宽瓶颈被打破,除了特征参数和声发射波形外,原始的波形流文件也得以全部实时传输与保存。
声发射仪作为一种典型的虚拟仪器,随着计算机总线技术的发展而提高也是必然的趋势。
第一阶段,1965年,美国Dunegan推出了首台商业化的声发射仪,一直到1983年基本都是纯模拟技术实现的声发射仪,也是第一代声发射仪;
第二代声发射仪,1983~1994年,美国PAC的SPARTAN-AT开始引入微处理器,并将声发射系统模块化,部分数字化;
第三代声发射仪,1994~2003年,美国DW、美国PAC和德国Vallen将声发射仪全面数字化,声发射传感器接收到的信号经过放大器放大之后直接经AD变换器专为数字信号,然后用数字电路硬件提取特征参数,并按照PDT、HDT、HLT等时间常数来提取声发射波形;
第四代声发射仪,2003~2015年,美国PAC将18bit的高速ADC引入PCI总线声发射卡,开启了18bit的高精度采集,除了特征参数和波形外,还启用了包含全部原始信息的波形流功能。在此期间,USB接口的声发射仪也开始出现,并逐步从USB2.0发展到USB3.0,总线传输速度也从40MB提高到400MB;
第五代声发射仪,2015至今,中国的鹏翔公司推出了PCIE总线的声发射卡,单卡8通道,每通道18bit30M采样,频率带宽高达1kHz~5MHz,且采用PCIE x8倍速传输,板卡传输带宽高达3GB/s,第四代声发射仪存在的传输瓶颈得到解决。除了声发射特征参数和波形的硬件实时提取之外,波形流功能也得以不受带宽限制的全速采集和实时传输。同时,适合分布式检测的千兆网接口的网络声发射仪开始出现,并将逐步向光纤传输发展,实现远距离的分布式声发射检测。
从频率上来划分:
第一个阶段,Dunegan等人把声发射的实验频率提高到100kHz-1MHz;
第二阶段,声发射仪器的信号带宽提高到100kHz~1.2MHz;
第三阶段,声发射仪器的信号带宽拓宽到1kHz~2MHz;
第四阶段,声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~3MHz;
第五阶段,声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~5MHz;
随着PCIE总线技术和高速ADC的发展,未来可能还会出现10MHz信号频率甚至更高频率的声发射仪。其实,早在1989年10月,日本富士陶瓷公司就生产出了10MHz的标准声发射传感器(型号REF10M)。
从信号获取及分析的方式来看,
第一个阶段,声发射仪采用的是纯模拟的技术;
第二阶段,微处理器被引入到声发射仪中,开始形成模拟和数字电路混合的仪器,信号分析主要是对特征参数进行分析;
第三阶段,声发射仪在信号放大进入ADC之后全面数字化,除了特征参数外,还出现了声发射波形的分析手段;
第四阶段,声发射仪器开始PCI及USB总线化,ADC的采样精度和采样率得以大幅提高,除了特征参数和波形外,还存储了包含全部原始信息的波形流信号。仅仅是由于总线带宽限制而无法获得多通道的全部波形流文件;
第五阶段,声发射仪开始使用PCIE总线,第四代仪器存在的总线带宽瓶颈被打破,除了特征参数和声发射波形外,原始的波形流文件也得以全部实时传输与保存。
声发射仪作为一种典型的虚拟仪器,随着计算机总线技术的发展而提高也是必然的趋势。
海伯森
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