Question

怎么分析通过XRD测结晶度的谱图？

Answer 1

分析方法：

已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。

当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。

扩展资料：

谱图分析注意事项：

一张XRD图谱出来，往往因为有空气散射，漫散射，荧光以及样品结晶差等等原因而造成图谱上存在许多“毛刺”和较高的背底，虽然提高X光强度能成倍提高信噪比，然而有时受仪器和样品所限，这两项功能需要用到。

还要尽量少使用平滑和扣背底，因为这两项操作带来的可能后果就是将一些微弱的有用信息一概抹掉，如果将数据用来做Rietveld精修，更不要进行这两项操作。

当然，如果是将图谱打印出来给别人看，适当进行平滑和扣背底的选择。

参考资料来源：百度百科-xrd