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透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)的组件包括: 1. 电子枪 发射电子,由阴极、栅极、阳极组成。 2. 聚光透镜 即电子透镜,将电子束聚集,可用于控制照明强度和孔径角。 3. 样品室 放置待观察的样品,并装有旋转台,用以改变试样的角度,还有装配加热、冷却等设备。 4. 物镜 为放大率很高的短距透镜,作用是放大电子像。物镜是决定透射电子显微镜分辨能力和成像质量的关键。 5. 中间镜 为可变倍的弱透镜,作用是对电子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流,可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。 6. 透射镜 为高倍的强透镜,用将二次放大后的中间像进一步放大后在荧光屏上成像。 7. 二级真空泵 对样品室抽真空。 8.照相装置 用以记录影像。 由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100 nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。通常用薄切片法或冷冻蚀刻法制备: (1)薄切片法 通常以锇酸和戊二醛固定样品,以环氧树脂包埋,以热膨胀或螺旋推进的方式推进样品切片,切片厚度20~50 nm,采用重金属盐染色,以增大反差。 (2)冷冻蚀刻法 亦称冰冻断裂法。将标本置于-100C的干冰或-196C的液氮中冰冻后,以冷刀急速断开标本。断裂的标本升温后,冰在真空条件下迅即升华,暴露出断面结构,称为蚀刻。蚀刻完成后,向断面以45角喷涂一层蒸气铂,再以90角喷涂一层碳,加强反差和强度。然后用次氯酸钠溶液消化样品,剥下碳和铂的膜,称为复膜,能显示标本蚀刻面的形态。在电镜下观察得到的影像即代表标本中细胞断裂面处的结构。详见: http://www.xianweijing.org/ 电子显微镜/透射式电子显微镜.html
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