Question

位错密度的位错密度的测定

Answer 1

位错密度的测量是个难题，传统的方法是采用金相法，通过观察位错露头的个数，计算位错密度。高分辨电镜是个办法，也是很多人用的办法，但是做过相关研究的人都会知道该方法的固有缺陷。1.好的高分辨电镜晶格花样不宜获得，就算是可以获得，也通常只在一个很小的区域，因此得到的值缺乏统计性。2.获得高质量高分辨花样后，位错通常是很难辨别的，因为晶格通常不是很清楚，通常要通过傅立叶变化的方法去处理花样，但是傅立叶变换会引入很多误差，有些本来不是位错的地方看起来也像是位错，因为透射电镜晶格像的面积非常小，所以如果多出几根位错也会使结果产生数量级的误差。但是不得不说，tem或传统金像分析法是最直接的方法。位错密度的确定是个公认的难题，但是也并非不能解决，有一些间接的方法可以得到位错密度，众所周知，位错密度与材料的残余应变有很大的关系，因此如果残余应变能够精确的测量，再辅以相应的模型，位错密度是可以得到精确表征的。关于残余应变，也有很多问题，传统的xrd线型分析，可以得到残余应变，但是由于材料弹性系数的各向异性，通常在不同的晶向指数上，其应变也不同，从而产生所谓的应变对比度（strain
contrast），应变对比度的表征需要很强的晶体学基础。