霍尔效应是电磁效应的一种,这一现象是美国物理学家霍尔(E.H.Hall,1855—1938)于1879年在研究金属的导电机制时发现的。霍尔效应实验是指为了解霍尔效应测量磁场原理而进行的实验。霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。
实验目的:1. 通过实验掌握霍尔效应基本原理,了解霍尔元件的基本结构;
2. 学会测量半导体材料的霍尔系数、电导率、迁移率等参数的实验方法和技术;
3. 学会用“对称测量法”消除副效应所产生的系统误差的实验方法。
4. 学习利用霍尔效应测量磁感应强度B及磁场分布。