
请问为什么可控硅需要过零检测?
1用什么电路检测比较好,2MOC3061光电双向可控硅,它的内部里面有一个过零检测,这个检测有什么作用?是不是交流在过零的时候保持晶闸管导通?...
1 用什么电路检测比较好, 2 MOC3061光电双向可控硅 ,它的内部里面有一个过零检测, 这个检测有什么作用? 是不是交流在过零的时候保持晶闸管导通?
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1个回答
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最近我也要用到这个器件,个人感觉如下:
1、检测就用运放构成比较器比较的好;
2、MOC3061中的过零检测主要用于改变双向可控硅G极上触发脉冲的极性,双向可控硅
导通方向就随着极性的变化而改变,从
而能够控制交流电负载。
值得注意的是过零检测双向可控硅可使电网更“干净”,但也有一些缺点。
1、检测就用运放构成比较器比较的好;
2、MOC3061中的过零检测主要用于改变双向可控硅G极上触发脉冲的极性,双向可控硅
导通方向就随着极性的变化而改变,从
而能够控制交流电负载。
值得注意的是过零检测双向可控硅可使电网更“干净”,但也有一些缺点。

2025-03-11 广告
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