dft是什么?
DFT是design for testability（可测试性技术）的缩写。
DFT是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。DFT的理念基于结构化测试（分治法），它并不是直接对芯片的逻辑功能进行测试来确保功能正常。而是尽力保证电路之间的低层级模块和它们之间的连接正确。
电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能在测试阶段节约更多的时间和金钱。
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DFT的关键也就在于取舍，测试逻辑的代价和效果的平衡。核心目的在于提高Observability 和Controllability。DFT主要负责制造时产生的缺陷检测，逻辑上的错误鞭长莫及。具体例子就是芯片挑体质。
在RTL设计阶段开始介入，设计插入DFT逻辑，设计并验证测试向量（功能仿真），综合时序也要收敛，得到芯片后进行机台调试。
dft指离散傅里叶变换。
离散傅里叶变换（Discrete Fourier Transform，缩写为DFT），是傅里叶变换在时域和频域上都呈离散的形式，将信号的时域采样变换为其DTFT的频域采样。在形式上，变换两端（时域和频域上）的序列是有限长的，而实际上这两组序列都应当被认为是离散周期信号的主值序列。即使对有限长的离散信号作DFT，也应当将其看作其周期延拓的变换。在实际应用中通常采用快速傅里叶变换计算DFT。
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总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱
DFT
Density Functional Theory 密度泛函理论
DFT
Dry film thickness(干膜厚度）指漆膜实干后的涂层厚度
