矢量网络分析仪的校准方法有哪些?
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以R&SZVB矢量网络分析仪2端口的TOSM校准为例(网络分析仪校准),操作步骤为先按CAL键激活校准菜单,然后按‘StartCal’键进入下一级校准菜单,按‘Two-PortP1P2’键选择2端口校准,并进入下一级菜单按‘TOSM’键选择TOSM校准方式,选择正确的接头形式,以及正确的校准件的型号,最后点击“Next”键,进入校准菜单,TOSM校准共有7个步骤,这里就不做更详细的说明了。尽管一般VNA的UserGuider上都有仪器校准的方法,但是还有很多细节需要注意的:
A、设定测试参数--选择测试频率范围:一般的频率范围要稍微大于测试指标规定的范围,选择VNAPort激励功率,对于无源器件,可以选择稍微大的激励功率,如果对于多端口VNA,还需要选择测试port。
B、选择校准件,选择校准方法,通过仪器校准的Guide完成校准--每个公司都有不同的规格的校准件,例如N型的,SMA型的,这个在校准之前一定要选择好,这个是因为厂家提供的校准件,开路短路负载等也不是理想的反射系数分别为1,-1和0。同公司的VNA中会定义校准件,将校准件的特性预先存入VNA,以便校准时求解误差方程。因此,如果校准件选择不当,校准的意义也就没有了。
C、校准结果检查--这一步不是必须的,但个人觉得作为一个优秀的射频工程师,这一步是至关重要的,主要是开路校准特性的检查、负载校准特性的检查、直通检查三大方面。
A、设定测试参数--选择测试频率范围:一般的频率范围要稍微大于测试指标规定的范围,选择VNAPort激励功率,对于无源器件,可以选择稍微大的激励功率,如果对于多端口VNA,还需要选择测试port。
B、选择校准件,选择校准方法,通过仪器校准的Guide完成校准--每个公司都有不同的规格的校准件,例如N型的,SMA型的,这个在校准之前一定要选择好,这个是因为厂家提供的校准件,开路短路负载等也不是理想的反射系数分别为1,-1和0。同公司的VNA中会定义校准件,将校准件的特性预先存入VNA,以便校准时求解误差方程。因此,如果校准件选择不当,校准的意义也就没有了。
C、校准结果检查--这一步不是必须的,但个人觉得作为一个优秀的射频工程师,这一步是至关重要的,主要是开路校准特性的检查、负载校准特性的检查、直通检查三大方面。
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矢量网络分析仪(VNA)的校准方法主要包括以下几种,每种方法适用于不同的测试场景和需求:
1. SOLT校准(Short-Open-Load-Thru)
适用场景:最常用的校准方法,适用于同轴测量环境,如射频元器件、同轴连接器等。
校准步骤:
短路(Short):连接短路标准件,测量端口的短路反射特性。
开路(Open):连接开路标准件,测量端口的开路反射特性。
负载(Load):连接50Ω负载标准件,测量端口的匹配情况。
直通(Through):用于两端口VNA校准,连接端口之间的直通标准件,校正传输误差。
优点:校准过程直观,适用于同轴环境,精度高。
缺点:开路标准件可能受寄生电容影响,高频时精度下降;负载标准件必须精确匹配50Ω。
2. TRL校准(Thru-Reflect-Line)
适用场景:适用于微带、波导、非50Ω传输线环境(如PCB、封装器件等)。
校准步骤:
直通(Thru):测量参考直通连接的特性。
反射(Reflect):使用已知的反射标准件(如短路或高反射负载)。
线路(Line):通过一段已知长度的传输线校准相位和损耗。
优点:适用于非同轴环境,校准精度高。
缺点:需要精确的传输线标准件,校准过程较复杂。
3. LRM校准(Line-Reflect-Match)
适用场景:适用于需要高精度匹配的测试环境,如芯片和非同轴连接器模块。
校准步骤:
线路(Line):测量传输线特性。
反射(Reflect):使用反射标准件。
匹配(Match):使用匹配负载标准件。
优点:适用于高频和非同轴环境。
缺点:需要高精度的匹配负载。
4. ECal(电子校准)
适用场景:适用于快速校准需求,减少人工操作误差。
校准步骤:通过电子校准模块自动完成校准,无需手动连接标准件。
优点:操作简便,速度快,适用于频繁校准的场景。
缺点:校准信号功率需高于-18dBm,否则无法进行“自适应调整”。
5. QuickCal快速校准技术
适用场景:适用于现场测试,如Keysight FieldFox系列手持式VNA。
校准步骤:内置快速校准技术,无需额外校准套件,简化测试流程。
优点:提高工作效率,保证测量结果的一致性和可重复性。
缺点:依赖仪器内置功能,适用范围有限。
6. 其他校准方法
LRRM(Line-Reflect-Reflect-Match):适用于更复杂的测试环境,需使用多个反射标准件。
单端口校准:仅使用开路、短路和负载标准件,适用于反射测量。
不同校准方法各有优劣,选择时需根据测试环境、精度要求和设备条件综合考虑。例如,同轴测试优先选择SOLT,非同轴环境可选TRL或LRM,而快速校准需求可考虑ECal或QuickCal。
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1. SOLT校准(Short-Open-Load-Thru)
适用场景:最常用的校准方法,适用于同轴测量环境,如射频元器件、同轴连接器等。
校准步骤:
短路(Short):连接短路标准件,测量端口的短路反射特性。
开路(Open):连接开路标准件,测量端口的开路反射特性。
负载(Load):连接50Ω负载标准件,测量端口的匹配情况。
直通(Through):用于两端口VNA校准,连接端口之间的直通标准件,校正传输误差。
优点:校准过程直观,适用于同轴环境,精度高。
缺点:开路标准件可能受寄生电容影响,高频时精度下降;负载标准件必须精确匹配50Ω。
2. TRL校准(Thru-Reflect-Line)
适用场景:适用于微带、波导、非50Ω传输线环境(如PCB、封装器件等)。
校准步骤:
直通(Thru):测量参考直通连接的特性。
反射(Reflect):使用已知的反射标准件(如短路或高反射负载)。
线路(Line):通过一段已知长度的传输线校准相位和损耗。
优点:适用于非同轴环境,校准精度高。
缺点:需要精确的传输线标准件,校准过程较复杂。
3. LRM校准(Line-Reflect-Match)
适用场景:适用于需要高精度匹配的测试环境,如芯片和非同轴连接器模块。
校准步骤:
线路(Line):测量传输线特性。
反射(Reflect):使用反射标准件。
匹配(Match):使用匹配负载标准件。
优点:适用于高频和非同轴环境。
缺点:需要高精度的匹配负载。
4. ECal(电子校准)
适用场景:适用于快速校准需求,减少人工操作误差。
校准步骤:通过电子校准模块自动完成校准,无需手动连接标准件。
优点:操作简便,速度快,适用于频繁校准的场景。
缺点:校准信号功率需高于-18dBm,否则无法进行“自适应调整”。
5. QuickCal快速校准技术
适用场景:适用于现场测试,如Keysight FieldFox系列手持式VNA。
校准步骤:内置快速校准技术,无需额外校准套件,简化测试流程。
优点:提高工作效率,保证测量结果的一致性和可重复性。
缺点:依赖仪器内置功能,适用范围有限。
6. 其他校准方法
LRRM(Line-Reflect-Reflect-Match):适用于更复杂的测试环境,需使用多个反射标准件。
单端口校准:仅使用开路、短路和负载标准件,适用于反射测量。
不同校准方法各有优劣,选择时需根据测试环境、精度要求和设备条件综合考虑。例如,同轴测试优先选择SOLT,非同轴环境可选TRL或LRM,而快速校准需求可考虑ECal或QuickCal。
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