Question

塞规通端为什么大于孔下偏差

零件加工一个光孔，如果用内孔塞规检测，通端实际尺寸大于光孔的下偏差；止端实际尺寸小于孔的上偏差。如果这样检测，是否有一定的合格产品，按照不合格处理了。为什么这样规定呢？
如果内孔的公差本身较小（如φ15+0.018,0），在排除通端（+0.002~+0.003）、止端（上偏差减去0.002~0.003）制造后尺寸及形位公差后，该孔制作公差大概也就是有0.01了。通止规所照成的误判已在孔公差的20%左右了。这样是否合理呀？

Answer 1

这个主要是依据泰勒原则，在保证易用性和经济性的条件下设计的。

量规使用中会磨损，尤其是通规磨损较快，所以通规实际尺寸大于光孔的下偏差并且给通规设计了磨损偏差来保证使用次数。而止规实际尺寸小于孔的上偏差是为了保证止规检验合格的产品在零件公差范围内。

这样使得量规有一定的耐用度，并且量规检验合格的产品一定在零件设计的公差范围内。但是这样就造成了另一个结果，可能产生误判。

当然，在依据泰勒原则设计量规时也考虑到了误判的可能，因此在判断有争议时，应该使用如下的量规解决：
通规应等于或接近工件孔的最小实体尺寸

止规应等于或接近工件孔的最大实体尺寸

追问

如果内孔的公差本身较小（如φ15+0.018,0），在排除通端、止端制造尺寸及形位公差后，该孔制作公差大概也就是有0.01了。通止规所照成的误判已大于孔公差的80%了。这样是否合理呀？

追答

φ15+0.018,0的通规15.0038-0.002，止规15.018-0.002，没有你想象的那么夸张。IT7是最常用的精度，加工难度并不大。光面规可以检测的最高精度是IT6，IT5及以下才需要其他检测手段。