薄膜测试xrd怎么计算x射线入射的深度

 我来答
嗯我在的AW
2017-07-24 · TA获得超过310个赞
知道小有建树答主
回答量:509
采纳率:88%
帮助的人:160万
展开全部
谢勒公式D=kλ/FWHM cosθ计算
D:晶粒尺寸(不叫离子尺寸的)
k:0.89
λ:XRD测试的x射线的波长,一般分kα1和kα2,具体用那种需要问测试老师。
FWHM:半高宽
θ:衍射角
具体方法:选定最强的衍射峰,测量其衍射角和半高宽(可用jade读取),然后带入公式计算即可。
东莞大凡
2024-11-19 广告
作为东莞市大凡光学科技有限公司的工作人员,对于标定板精度有以下认识:标定板的精度主要由其加工工艺决定,高精度光刻工艺可达到3um内,丝印工艺在20\~50um,而激光打标则在20\~100um。此外,标定板的材料和大小也会影响其精度。为了保... 点击进入详情页
本回答由东莞大凡提供
推荐律师服务: 若未解决您的问题,请您详细描述您的问题,通过百度律临进行免费专业咨询

为你推荐:

下载百度知道APP,抢鲜体验
使用百度知道APP,立即抢鲜体验。你的手机镜头里或许有别人想知道的答案。
扫描二维码下载
×

类别

我们会通过消息、邮箱等方式尽快将举报结果通知您。

说明

0/200

提交
取消

辅 助

模 式