Question

光耦怎么测好坏 光耦如何测好坏

Answer 1

光耦（光电耦合器）的检测涉及到几种常用的方法，以下是对这些方法的简要介绍：

• 外观检查：先看光耦的外观是否完整，是否有明显的物理损坏，如损坏或裂纹。如果有明显的物理损坏，那么光耦可能已经损坏，需要更换。

• 正常工作电压测试：通过测量光耦的工作电压来判断其是否正常工作。可以用万用表或示波器测量光耦的输入和输出端的电压。如果输入端的电压不能使光耦正常工作，或者输出端的电压和预期不符，那么光耦可能存在问题。

• 光耦传输特性测试：此方法涉及到改变输入端电压并同时测量输出端电流，通过这种方式测试光耦的光敏器件输出电流的变化情况。可以绘制输入电压和输出电流的曲线，从而更直观地评估光耦的工作性能。

• 比较法：移除被怀疑的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，将其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

• 数字万用表检测法：例如以PC111光耦检测为例，检测时将光耦内接二极管的+端 {1}脚和-端 {2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，置万用表于NPN挡。

这些检测方法可以提供一种全面的方法来评估光耦的健康状况和性能。请务必参考特定设备的文档，以全面理解适当的检测和故障排除过程。

Answer 2

1、比较法。拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

2、数字万用表检测法。下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度，实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。

3、光电效应判断法。仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路。将万用表置于RX1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节1.5v的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，观察接在输出端万用表的指针偏转情况。指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。