用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到

如果只测硅片的话,买的硅片是(100)的,结果只能测到(400)的峰,而且(100)和(400)两个面是不是平行的测薄膜的时候,比如硫化镉,立方结构的(111)和六角结构... 如果只测硅片的话,买的硅片是(100)的,结果只能测到(400)的峰,而且(100)和(400)两个面是不是平行的
测薄膜的时候,比如硫化镉,立方结构的(111)和六角结构的(002)很接近,怎么判断是哪一个。
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匿名用户
2011-03-02
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两个晶面当然是平行的,取向完全一致,所以硅片没问题。

后者要通过观察其它弱衍射峰来确定到底是六方还是立方。一般来说硫化镉六方多一点。
追问
我觉得(100)和(400)是一回事啊,为什么要分开来说
什么只能测到(400),是不是因为X射线的波长小于(100)的层间距

我做的两个样品
一个是薄膜,两个衍射峰,低一点的是六角的,是不是说明高一点的主峰也是六角的
另一个是有纳米线的薄膜,主峰和薄膜的主峰位置很靠近,但是角度要差一点,峰值很高,PDF的卡片上,立方结构的主峰(111)也很高。而且纳米线形状是3棱锥形的,是不是意味着它就是立方结构呢
追答
第一个问题,低一点是六方,说明高角度也属六方晶系的可能性更大;
第二个问题,跟你的制备条件有关,硫化镉很少见立方结构,至于说高的峰值,一般来说是001或者100,考虑到硅片的100取向。顺便说一句,峰值高低跟取向有关,且相对强度随取向而变。
zs
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