光的薄膜干涉的三个问题

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系科仪器
2024-08-02 广告

椭偏仪是一种精密的光学测量仪器，能够非破坏性地同时测定薄膜的厚度和折射率。其原理基于偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时发生的偏振变换。通过精确测量反射光与入射光偏振态的变化，椭偏仪能够计算出薄膜的折射率，这一数值反映了光在材料中的传播速度... 点击进入详情页

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