光耦怎么测好坏
1、比较法。拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2、数字万用表检测法。下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度，实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
3、光电效应判断法。仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路。将万用表置于RX1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节1.5v的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，观察接在输出端万用表的指针偏转情况。指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
测量光耦（光电耦合器）的好坏可以通过多种方法来进行。以下是一些常见的方法：
外观检查：首先，检查光耦的外观是否有物理损坏如裂纹，烧焦，变形等。如果发现外观有明显的物理损坏，那么很可能意味着光耦已经损坏。
使用万用表检测：通常的万用表都有PN结测试功能，利用这一功能可以检测光耦的输入端二极管和输出端的晶体管。要注意的是，不同的光耦可能需要使用不同模式（NPN或PNP）的万用表进行测试。
工作电压测试：通过万用表或示波器测量光耦的输入和输出电压。在测试前，应确保按照光耦规格书提供正确的电压和极性。如果测量值与预期的电压有出入，那么很可能意味着光耦存在问题。
光耦传输特性测试：测试光耦的传输特性，即在不同的输入电压条件下，输出电流的变化情况。这通常可以通过改变输入电压，同时测量输出电流以及通过绘制输入电压和输出电流的曲线图进行。
使用示波器观察波形：如果条件允许，可以使用示波器观察光耦输入和输出的信号波形。通过比较波形是否有明显异常，可以判断光耦是否工作正常。
