Question

测厚仪原理及其种类

Answer 1

　　 测厚仪是用来测量物体的厚度的工具。这种仪表中有测量放射性射线原理的、有利用机械触控原理的、有利用涡流原理的等等测厚仪。下面就有小编来介绍测厚仪的原理及其种类。

　　

　　测量原理大致有五种类型：

　　1.放射测厚法：用此种方法的仪器的价格非常高，一般只在特殊的场合进行使用。

　　2.涡流测厚法：适合在导电金属的非导电层进行测量厚度，但是精度相对较低。

　　3.磁性测厚法：适合在导磁材料的非导磁层进行测量厚度。一般使用在：铁、钢、银等材料上。测量精度相对较高。

　　4.电解测厚法：这种方法和别的不一样，需要进行破坏涂镀层面，精度来说也不高。比其他的测厚法相对繁琐。

　　5.超声波测厚法：适合在涂镀层比较多、比较厚的物体进行测量厚度和磁性测厚法和涡流测厚法都无法测量的场合。但是价格较高，精度不高。

　　

　　市场上测厚仪测量方式多种多样，可以大致分为以下两种种：1、接触式测厚仪。2、非接触式测厚仪。接触式按接触面积可以划分为面接触式测厚仪、点接触测厚仪。非接触因其原理不一样，分为以下几种类型：X射线测厚仪、电解式测厚仪、涂层测厚仪、激光测厚仪、超声波测厚仪。

　　纸张测厚仪：比较适合4mm以下的各种比较薄的片状材料厚度的测量。

　　超声波测厚仪：是用超声波脉冲反射原理测量厚度的，凡是能用超声波在一恒定速度在物体内部传播的各种材料都可以用此原理进行测量。

　　

　　激光测厚仪：是一种非接触式测厚仪，利用激光反射原理测量观察零件表面的微观几何形状进行测量物体的厚度。激光测厚仪能直接输出信号和工业计算机连接，快速处理数据和输出偏差值。激光测厚仪是用激光检测技术和防护措施，适合温度较高的物体测量厚度的要求。其检测系统具有成本低、无辐射、便于维护等优点。

　　

　　不同种类的物体需要对应不同的测厚仪，因此我们如果要测量物体的厚度首先要分布物体的材质。

　　希望小编的介绍对各位看客老爷有所帮助。

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Answer 2

X射线荧光膜厚仪是一种用于测量样品表面涂层或薄膜厚度的设备，使用X射线荧光原理进行测量。以下是X射线荧光膜厚仪的一般使用方法：

• 准备工作：将X射线荧光膜厚仪放置在平坦的工作台上，确保仪器稳定并接通电源。

• 校准仪器：在进行测量之前，需要使用标准样品对仪器进行校准。具体校准步骤可能因不同型号的仪器而异，但通常需要将标准样品放置在仪器上，并调整仪器设置以达到正确的测量状态。

• 样品准备：对于需要测量涂层或薄膜厚度的样品，需要进行适当的准备。如果需要测量金属基体上的涂层厚度，需要将样品表面清洁干净，确保没有油污、氧化层或其他杂质。如果需要测量多层涂层或薄膜的厚度，需要按照样品的结构和材料特性进行适当的样品制备，如分层剥离或切割等。

• 测量厚度：将样品放置在X射线荧光膜厚仪上，并按下测量按钮。仪器会自动进行X射线荧光测量，并显示涂层或薄膜的厚度值。

• 数据处理：根据需要，可以将测量结果记录下来，并进行数据处理和分析。可以计算平均值、标准偏差等统计数据，以及绘制厚度分布图等。

• 注意事项：在使用X射线荧光膜厚仪时，需要注意以下几点：

* 确保仪器在稳定的平面上放置，避免振动或撞击。
* 确保仪器的电源稳定，不要在电源不稳定的情况下使用。
* 使用合适的样品制备方法，以确保测量结果的准确性和可靠性。
* 在进行测量之前，要确保样品的表面干净和干燥。
* 在使用X射线荧光膜厚仪时，要注意个人安全和保护仪器的安全。

总的来说，X射线荧光膜厚仪的使用方法包括准备工作、校准仪器、样品准备、测量厚度和数据处理等步骤。在使用过程中，需要注意安全和准确性，以确保测量结果的可靠性和准确性。