请有经验的同行回答:用两个控制点后方交会放样点与用一个控制点为测站,另一控制点国后视放样点,这两种方
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依据我个人测量经验通过对两种方法的实际操作,觉得架设在控制点上放样精度要高些,为何?理由有以下几个原因:
后方交会是在已知两个控制点的基础上推算任意置镜点坐标(其实质是间接求算测站坐标也算是转点的一种吧),这就相当于在原有控制点精度的基础上又增加了一次计算处理!第二点就是后方交会对角度和距离要求很高一般夹角控制在60-120度比较合适,长边控制短边这是基本常识,还有就是放样点到测站点距离,不要低于测站点到其他2个控制点的距离(对选择任意置镜的测站点要求高)!
由以上两点可以知道,直接在控制点上架设仪器的测站点精度相对后方交会推算出的测站点精度要高些,杜绝了在原有控制网点再次转点的误差累计。
后方交会是在已知两个控制点的基础上推算任意置镜点坐标(其实质是间接求算测站坐标也算是转点的一种吧),这就相当于在原有控制点精度的基础上又增加了一次计算处理!第二点就是后方交会对角度和距离要求很高一般夹角控制在60-120度比较合适,长边控制短边这是基本常识,还有就是放样点到测站点距离,不要低于测站点到其他2个控制点的距离(对选择任意置镜的测站点要求高)!
由以上两点可以知道,直接在控制点上架设仪器的测站点精度相对后方交会推算出的测站点精度要高些,杜绝了在原有控制网点再次转点的误差累计。
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