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分析仪器,又根据荧光X射线能量分析方法的不同而区分成能量分散型和波长分散型两种。前者是检测仪器自身有X射线能量分析的机能前者は検出器自体がX线のエネルギー分析机能を持つ半...
分析仪器,又根据荧光X射线能量分析方法的不同而区分成能量分散型和波长分散型两种。前者是检测仪器自身有X射线能量分析的机能前者は検出器自体がX线のエネルギー分析机能を持つ半导体検出器を用いており、後者はブラッグの法则を利用した结晶分光器を用いてエネルギー分析を行う。エネルギー分散型は、波长分散型に比べて小型で标准试料无しで定量ができるという特徴を持つが、感度的には劣り、エネルギー分解能も低いのが一般的である。検出元素は、CからUまでで、軽元素ほど感度が低い倾向にある。
エネルギー分散型蛍光Ⅹ线分析では、半导体検出器を用いることが特徴であり、検出器自体がエネルギー分析能をもつため装置の构成を波长分散型に比べて単纯にすることができる。半导体検出器は、Si単结晶にLiを拡散させてイソトリンシック层としたp-i-n接合をもつ半导体が一般的である。このような特徴を持つSi(Li)型検出器ではあるが、感度(计数率)が低いことや液体窒素冷却が必要なことが利便性を损ねている。しかし、最近市贩されるようになったシリコンドリフト検出器(SDD)は、比较的高い感度(计数率)を达成し、またペルチエ素子による冷却を行っており、扱いやすい検出器として注目されている。 展开
エネルギー分散型蛍光Ⅹ线分析では、半导体検出器を用いることが特徴であり、検出器自体がエネルギー分析能をもつため装置の构成を波长分散型に比べて単纯にすることができる。半导体検出器は、Si単结晶にLiを拡散させてイソトリンシック层としたp-i-n接合をもつ半导体が一般的である。このような特徴を持つSi(Li)型検出器ではあるが、感度(计数率)が低いことや液体窒素冷却が必要なことが利便性を损ねている。しかし、最近市贩されるようになったシリコンドリフト検出器(SDD)は、比较的高い感度(计数率)を达成し、またペルチエ素子による冷却を行っており、扱いやすい検出器として注目されている。 展开
3个回答
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是检测器本身X线能源分析桌子能力的半导体检测器采用,后者是布拉格的法则利用结晶分光器用能量分析。能量色散,波长分散型相比,小型标准试料无以定量能这样的特征,但灵敏度性差,能量分辨率也很低很一般。检测元素,从C U为止,越轻元素灵敏度低倾向。
能量分散型萤光X线分析,半导体检测器用的特点,检测器本身能量分析能力为拥有装置的构成波长分散型相比,单纯可以。半导体检测器,硅单结晶中锂扩散让异トリン别致层了p - i - n接合的半导体一般。这种特性的硅(锂)型检测器的,灵敏度(计数率)低和液体氮冷却需要便利性损啊。但是,最近市被贩了硅漂移检测器(SDD),比较性高灵敏度(计数率),又达成佩尔郄素子冷却进行容易处理的检测器的关注。
看下是不是你要的,是的话,你懂的。
能量分散型萤光X线分析,半导体检测器用的特点,检测器本身能量分析能力为拥有装置的构成波长分散型相比,单纯可以。半导体检测器,硅单结晶中锂扩散让异トリン别致层了p - i - n接合的半导体一般。这种特性的硅(锂)型检测器的,灵敏度(计数率)低和液体氮冷却需要便利性损啊。但是,最近市被贩了硅漂移检测器(SDD),比较性高灵敏度(计数率),又达成佩尔郄素子冷却进行容易处理的检测器的关注。
看下是不是你要的,是的话,你懂的。
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分析仪器,又根据荧光X射线能量分析方法的不同而区分成能量分散型和波长分散型两种。前者是检测仪器自身有X射线能量分析的机能,前者是检测器本身X线能源分析桌子能力的半导体检测器采用,后者是布拉格的法则利用结晶分光器用能量分析。能量色散,波长分散型相比,小型标准试料无以定量能这样的特征,但灵敏度性差,能量分辨率也很低很一般。检测元素,从C U为止,越轻元素灵敏度低倾向。
能量分散型萤光X线分析,半导体检测器用的特点,检测器本身能量分析能力为拥有装置的构成波长分散型相比,单纯可以。半导体检测器,硅单结晶中锂扩散让异トリン别致层了p - i - n接合的半导体一般。这种特性的硅(锂)型检测器的,灵敏度(计数率)低和液体氮冷却需要便利性损啊。但是,最近市被贩了硅漂移检测器(SDD),比较性高灵敏度(计数率),又达成佩尔郄素子冷却进行容易处理的检测器的关注。
能量分散型萤光X线分析,半导体检测器用的特点,检测器本身能量分析能力为拥有装置的构成波长分散型相比,单纯可以。半导体检测器,硅单结晶中锂扩散让异トリン别致层了p - i - n接合的半导体一般。这种特性的硅(锂)型检测器的,灵敏度(计数率)低和液体氮冷却需要便利性损啊。但是,最近市被贩了硅漂移检测器(SDD),比较性高灵敏度(计数率),又达成佩尔郄素子冷却进行容易处理的检测器的关注。
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人工翻译。从日文部分开始。这篇文应该是X射线荧光光谱仪的介绍。具体翻译如下:
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前者使用半导体检测器,其本身具有X射线能量的分析功能;后者使用晶体摄谱仪进行能量分析,其利用了布拉格定律。与波长分散性X射线分析法相比,能量分散型有着体积小,不需要样品且可以定量分析等等特点。但通常灵敏度低,对能量的分析能力也较低。可检测出的元素为C至U,灵敏度随元素的相对质量减小而减小。
能量分散型X射线荧光检测仪的特征为其使用的是半导体检测器。由于半导体检测器本身具有能量分析能力,所以该仪器在构造上可以制作得比波长分散型光谱仪简洁。而半导体检测器通常使用 有pn结的半导体,其pn结由包含Li的Si晶体固态层组成。这种Si检测仪虽然拥有上述特点,灵敏度却较低且需要液氮冷却,因此便利性不佳。而最近市面上开始贩卖的硅漂移探测器达到了较高的灵敏度,另外其使用珀尔贴进行冷却,易使用,所以受到了广泛关注。
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#结晶分光器:晶体摄谱仪
#C:碳元素
#U:铀元素
#Si:硅元素
#Li:锂元素
#p-i-n接合:PN结,原本的i指真性半导体。关于PN结,请自行搜索。
#シリコンドリフト検出器:硅漂移二极管探测器(SSD)
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前者使用半导体检测器,其本身具有X射线能量的分析功能;后者使用晶体摄谱仪进行能量分析,其利用了布拉格定律。与波长分散性X射线分析法相比,能量分散型有着体积小,不需要样品且可以定量分析等等特点。但通常灵敏度低,对能量的分析能力也较低。可检测出的元素为C至U,灵敏度随元素的相对质量减小而减小。
能量分散型X射线荧光检测仪的特征为其使用的是半导体检测器。由于半导体检测器本身具有能量分析能力,所以该仪器在构造上可以制作得比波长分散型光谱仪简洁。而半导体检测器通常使用 有pn结的半导体,其pn结由包含Li的Si晶体固态层组成。这种Si检测仪虽然拥有上述特点,灵敏度却较低且需要液氮冷却,因此便利性不佳。而最近市面上开始贩卖的硅漂移探测器达到了较高的灵敏度,另外其使用珀尔贴进行冷却,易使用,所以受到了广泛关注。
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#结晶分光器:晶体摄谱仪
#C:碳元素
#U:铀元素
#Si:硅元素
#Li:锂元素
#p-i-n接合:PN结,原本的i指真性半导体。关于PN结,请自行搜索。
#シリコンドリフト検出器:硅漂移二极管探测器(SSD)
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