白光垂直照射在一厚度均匀、折射率n=1.2的薄膜上
白光垂直照射在一厚度均匀、折射率n=1.2的薄膜上(薄膜放在空气中),在可见光谱内发现反射光中λ1=600nm的光干涉加强,而在透射光中λ2=450nm的光干涉加强(可见...
白光垂直照射在一厚度均匀、折射率n=1.2的薄膜上(薄膜放在空气中),在可见光谱内发现反射光中λ1=600nm的光干涉加强,而在透射光中λ2=450nm的光干涉加强(可见光波段400nm-760nm)求:薄膜的最小厚度
展开
1个回答
创视智能
2023-06-12 广告
2023-06-12 广告
光谱共焦测厚度是一种通过光谱共焦位移传感器来测量材料厚度的方法。该方法适用于各种材料表面,包括透明、半透明、膜层和金属粗糙面等。该方法利用传感器在不同波长处的响应差异来确定被测材料的厚度。光谱共焦测厚仪可以测量厚度范围从几微米到几百微米不等...
点击进入详情页
本回答由创视智能提供
推荐律师服务:
若未解决您的问题,请您详细描述您的问题,通过百度律临进行免费专业咨询