Question

SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱，这几个分别是测什么的？

SEM和TEM和AFM，XRD和红外光谱之间有什么区别？

Answer 1

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。

区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。

Answer 2

tem可测磁性包含制样，sem可测磁性包含喷金制样，afm平行测三个位置，xrd不限制元素，tg-dsc最高温到1600度。【扫描信息测试信息】
红外光谱属于分子振动-转动光谱，是分子吸收红外光时，振动能级和转动能级发生跃迁而产生的分子吸收光谱。其光谱仪通过记录红外光的透射率与其波长或波数的关系曲线，得到红外光谱图，再对其图谱进行解析便可获取分子结构的信息。红外光谱具有特征性强、适用范围广、分析速度快、样品用量少、不破坏样品和易实现在线分析等特点，可广泛应用于化合物的定性鉴定和结构分析，也可用于定量分析等。
如果您有需要，可以关注欧波同材料分析研究中心。每个部门各司其职，仪器技术部负责测试前样品制样处理，旨在制样方法研究，为用户提供更高效准确的制样方法。应用技术部负责日常测试工作，对测试方案及结果进行研究，优化测量参数，提供更高质量的测量结果。软件技术部负责将大量测试数据积累统计，编写软件，为显微测试结果数值化开创新思路。产品部负责聘请各行业应用技术人才，对测量结果准确性进行监管，欢迎来电或留言咨询。

Answer 3

sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析
TEM是透射电镜，主要用于微区衍射分析，进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析，位错等研究
AFM是原子力显微镜，主要用于材料表面微观形貌观测，可实现3维立体构图
XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等
红外光谱主要用于有机官能团的标识