怎样测试运算放大器的输入失调电压?
直接利用失调电压的定义来测:正负输入端均接地,然后测量输出电压。该电压即为失调电压。电路接法参考国家标准GB3442-82,同时也应注意用补偿电容消除电路中的自激振荡。
使运算放大器输出端为0V(或接近0V)所需加于两输入端间之补偿电压。理想段祥之运算放大器其VIO为0V,一般约为数毫伏。
如μA741C在25℃ 时其VIO最大值为6mV,LM318在25℃ 时其VIO最大值为10mV。VIO造成之原因为运放中差动放大级之VBE-IB特性不一致所致。
若是由FET所构成之差动放大器则是因VGS-ID特性不一致所造成,其值可为正值或负值。
扩展资料:
需要注意一个常见问题:替换不同型号的运放后,如果滑动端意外地与错误的电源相连,那么运放将会损坏。一个设计良好的运放的失调电压调节范围不超过其最低等级产品的最大Vos的2~3倍;然而,运放的失调电压调整管脚处的电压增益通常大于信号输入端的增益握腔搏。
因此,必须尽可能地减小失调电压调整管脚处的噪声,也就是避免使用长导线连接运放和电位器。圆举失调电压调零会引起失调温度系数上升,运放的输入失调电压漂移受失调电限调整设置的影响。
内部调节端只能用于调整运放自己的失调电压,而不能纠正系统的失调误差。对于FET输入型运放来说,漂移损失约为4μV/℃。通常,最好通过选择合适的器件/等级来控制失调电压。
参考资料来源:百度百科-失调电压