请教:关于LED发光亮度的测量方法
在测试LED芯片的亮度和评价LED光辐射安全性的过程中,通常采用成像法,对于芯片的测试可以采用显微成像进行测量。光亮度是光源发光表面上某一处的亮度L,是该面元dS在给定方向上的发光强度除以该面元在垂直于给定方向平面上的正投影面积之商:
光亮度的单位是坎德拉每平方米(cd/m2)。当发光表面与测量方向垂直时,则cosθ=1。
LED光源因其有着寿命长、能耗低、可靠性高、易于控制等特点,正逐步取代白炽 灯及荧光灯照明市场,成为新一代照明光源。
扩展资料:
LED的频闪特性:
由于LED具有非常快的响应时间,因此在一定的条件下,LED的频闪特性主要是由于驱动电源的特性决定。而传统光源由于响应速度慢(上升、下降时间长),发光具有很大延后性,因此对电流的抖动不敏感。
光源在交流或脉冲直流电源的驱动下, 随着电流幅值的周期性变化,光通量、照度或亮度发生相应的变化。因此LED光源的频闪问题比传统的光源要更加突出、严重,需要给予必要的关注。
参考资料来源:
LED发光亮度的测量方法有以下三种:
常用的成像式亮度计和遮光筒式亮度计;成像式亮度计就是我们常见的彩色亮度计和色彩辉度计。常常用在LED显示屏的亮度测试,它只能测试LED显示屏较小区域的亮度值。
采用CCD的像素灰度测量系统;主要原理是利用CCD采集LED显示屏的图像,再用图像处理技术对图像进行处理,提取LED显示屏的每个像素的灰度值。从而对出LED显示屏的每个像素的相对亮度值
采用CCD技术的亮度计。利用CCD采集LED显示屏灰数据,它改善了前面两种亮度计无法测量大面积亮度源的缺陷,实时性好,可获取信息量大,可得到LED显示屏的每个像素成像在CCD上的灰度值。但这个灰度值不能和实际亮度值对等,甚至和亮度值缺乏严格的线性关系。
2013-04-12
2013-04-12