在双缝干涉实验中,当入射单色光的波长减小时,屏幕上干涉条纹的变化情况是( )。

A.条纹变密并远离屏幕中心B.条纹变密并靠近屏幕中心C.条纹变宽并远离屏幕中心D.条纹变宽并靠近屏幕中心... A.条纹变密并远离屏幕中心
B.条纹变密并靠近屏幕中心
C.条纹变宽并远离屏幕中心
D.条纹变宽并靠近屏幕中心
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【答案】:B
相邻明条纹间距的计算公式为Δx=Dλ/nd,其中D为双缝与屏的水平距离,d为双缝间的距离,n=1,2,3…可知当波长λ减小时,Δx变小,条纹变密。第一、二条明纹间距缩小,说明条纹靠近屏幕中心。
创视智能
2023-06-12 广告
光谱共焦测厚度是一种通过光谱共焦位移传感器来测量材料厚度的方法。该方法适用于各种材料表面,包括透明、半透明、膜层和金属粗糙面等。该方法利用传感器在不同波长处的响应差异来确定被测材料的厚度。光谱共焦测厚仪可以测量厚度范围从几微米到几百微米不等... 点击进入详情页
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