XRD测定粉体时对粉体样品有什么要求?

导师让我测一些粉体的XRD,以前没测过粉体的,给我的粉有的连那个窗口都填不满,那样会影响结果吗?还有就是测粉体的时候一定要压的很实吗?请各位指教。... 导师让我测一些粉体的XRD,以前没测过粉体的,给我的粉有的连那个窗口都填不满,那样会影响结果吗?还有就是测粉体的时候一定要压的很实吗?请各位指教。 展开
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匿名用户
2013-07-19
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没什么影响,压实是防止玻璃片在旋转过程中样品都掉了。
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创视智能
2023-06-12 广告
光谱共焦测厚度是一种通过光谱共焦位移传感器来测量材料厚度的方法。该方法适用于各种材料表面,包括透明、半透明、膜层和金属粗糙面等。该方法利用传感器在不同波长处的响应差异来确定被测材料的厚度。光谱共焦测厚仪可以测量厚度范围从几微米到几百微米不等... 点击进入详情页
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匿名用户
2013-07-19
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太少了X射线会达到样品盒上面,对结果有点影响。最好形成一个平面。
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匿名用户
2013-07-19
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只要能在样品片里面放平即可~
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匿名用户
2013-07-19
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影响应不大吧
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领拓检测
2024-09-04 · 超过41用户采纳过TA的回答
知道小有建树答主
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XRD测试要求粉末样品颗粒度均匀,粒度小于200目(75μm),手摸带有面粉质感,无颗粒感,这样可以避免衍射线的宽化,得到良好的衍射线。制得的粉末样品可涂在载玻片上也可压制成块状再测试。

制备粉末样品的方法有很多,常见的有手动和机械制样。手动制样一般使用研钵研磨,需要在研磨过程中不断过筛,分出已经细化的颗粒。这种方法耗时耗力,特别是在测试样品数量多的时候。采用机械制样可提高制样效率,常见的有破碎机、研磨仪和球磨仪等。
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