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武汉颐光科技有限公司
2023-06-13 广告
2023-06-13 广告
目前有许多椭偏仪可以用于测量纳米薄膜的厚度,其中一些最精确、功能最强大的椭偏仪可能包括:1. EIS01成像光谱椭偏仪:这是一款由美国Angstrom公司开发的椭偏仪,它具有高精度、高分辨率和广泛的测量范围,可以用于测量纳米薄膜的厚度和折射...
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