集成电路的识别方法
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申请专利号CN03115242.2 专利申请日2003.01.29 名称集成电路的版图识别方法 公开(公告)号CN1521622公开(公告)日2004.08.18 类别物理颁证日 优先权 申请(专利权)上海芯华微电子有限公司;上海交通大学;同济大学 地址200233上海市宜山路520号中华门大厦16楼 发明(设计)人林争辉;林涛;戎蒙恬;陈艳;;王海雄 国际申请 国际公布 进入国家日期 专利代理机构上海专利商标事务所 代理人王月珍 摘要本发明涉及一种集成电路的版图识别方法,运用计算机软件控制的方法加以实现。包括:在计算机中放入版图的原始信息,对原始信息进行编译;磁盘文件1存储编译的结果;接受磁盘文件1中存储的编译结果的信息,绘制出彩色版图;从磁盘文件1中存储的编译结果的信息,提取出电路元件及电路互连表;磁盘文件2存储提取出的电路元件及电路互连表的信息;将磁盘文件2中存储的提取出电路元件及电路互连表的信息,输出电路原理图的表格;将上述磁盘文件2中存储的提取出电路元件及电路互连表的信息,绘制电路原理图,输出直观的电路原理图。本发明通用性强,易直观,数据结构合理,有较强的实用性,使用简便,所以易于推广使用。 主权项1、一种集成电路的版图识别方法,由计算机软件系统控制集成电路版图识别的方法,其特征在于所述的版图识别方法包括: S1步骤:在计算机中放入版图的原始信息,集成电路版图的原始信息是版图的源程序,这是放在软盘或磁带中的一系列程序,它所描述的是该块集成电路版图的全部情况,这正是所要识别的对象的源程序; S2步骤:MASK 1技术,是对上述集成电路版图的原始信息进行编译; S3步骤:存储中间结果的磁盘文件1,是存储上述MASK 1编译的结果; S4步骤:MASK 2技术,接受上述磁盘文件1中存储的编译结果的信息,从而绘制出集成电路版图来,即按原始的制版数据,绘制出彩色版图以供分析之用; S5步骤:MASK 3技术,从上述磁盘文件1中存储的编译结果的信息,将版图源程序经过图形运算,提取出电路元件及电路互连表; S6步骤:存储中间结果的磁盘文件2,是存储上述提取出电路元件及电路互连表的信息; S7步骤:MASK 4技术,将上述磁盘文件2中存储的提取出电路元件及电路互连表的信息,输出一张关于电路原理图的表格; S8步骤:MASK 5技术,将上述磁盘文件2中存储的提取出电路元件及电路互连表的信息,绘制电路原理图,输出一张直观的电路原理图。
2013-08-17
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要识别什么方面?
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