已知构成某系统的元件能正常工作的概率为p(0<p<1),且各个元件能否正常工作是相互独立的.今有2n(n

已知构成某系统的元件能正常工作的概率为p(0<p<1),且各个元件能否正常工作是相互独立的.今有2n(n大于1)个元件可按如图所示的两种连接方式分别构成两个系统甲、乙.(... 已知构成某系统的元件能正常工作的概率为p(0<p<1),且各个元件能否正常工作是相互独立的.今有2n(n大于1)个元件可按如图所示的两种连接方式分别构成两个系统甲、乙. (1)试分别求出系统甲、乙能正常工作的概率p1,p2;(2)比较p1与p2的大小,并从概率意义上评价两系统的优劣. 展开
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(1)由图知,甲系统中每个通路能正常工作的概率为pn,故整个系统能正常工作的概率是p1=1-(1-pn2=pn(2-pn),
乙系统每个小并联电路能正常工作的概率是p(2-p),故整个系统能正常工作的概率是p2=pn(2-p)n.(4分)
(2)由于p2-p1=pn[(2-p)n-(2-pn)],故比较p1与p2的大小可通过比较[(2-p)n-(2-pn)]符号,
当n=2时,有(2-p)2-(2-p2)=2(1-p)2>0  (0<p<1).故有n=2时,(2-p)2>2-p2
假设n=k时,有(2-p)k>2-pk
当n=k+1时,(2-p)k+1-(2-pk+1)=(2-p)(2-p)k-(2-pk+1)=2(1-p)(2-pk
由于0<p<1,可得2(1-p)(2-pk)>0,故有n=k+1时,(2-p)k+1>(2-pk+1),
综上证得p2>p1
由此结论知,在所用的电子器件数目一样的情况下,乙系统工作情况比甲系统更稳定,出现不正常工作的可能小,较可靠.
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