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三、填空题1.烷烃类的VC-H峰一般接近又低于_________cm-1,烯烃类的V=C-H峰位于__________cm-1区间,炔烃的V=C-H峰一般在_______...
三、填空题
1.烷烃类的V C-H峰一般接近又低于_________cm-1,烯烃类的 V=C-H峰位于__________cm-1区间,炔烃的 V=C-H峰一般在____________cm-1附近。
2.用非水滴定法测定弱碱,最常用的标准溶液是____________________________。
3.EDTA滴定金属离子,准确滴定的条件是__________________。
4.铁铵矾指示剂法(Volhard method)测定Cl-时,为消除AgCl沉淀吸附的影响,采取的方法有____________除去AgCl沉淀或加入___________包围住AgCl沉淀。
5.两组分的调整保留值之比称为___________________,其计算公式___________________。
6.对于硅胶吸附剂,其含水量越少,吸附能力越______,同一组分在此硅胶上的Rf越_____。
7.在水溶液中,弱酸能够被准确滴定的判据是__________________________________ 。
8.对全新化合物及结构复杂的化合物的化学结构确证,除使用红外光谱外,还需要使用________、__________及____________谱实施综合解析。
9.在薄层色谱法中,分离极性的组分,宜选用__________的吸附剂,以极性__________的展开剂展开。 展开
1.烷烃类的V C-H峰一般接近又低于_________cm-1,烯烃类的 V=C-H峰位于__________cm-1区间,炔烃的 V=C-H峰一般在____________cm-1附近。
2.用非水滴定法测定弱碱,最常用的标准溶液是____________________________。
3.EDTA滴定金属离子,准确滴定的条件是__________________。
4.铁铵矾指示剂法(Volhard method)测定Cl-时,为消除AgCl沉淀吸附的影响,采取的方法有____________除去AgCl沉淀或加入___________包围住AgCl沉淀。
5.两组分的调整保留值之比称为___________________,其计算公式___________________。
6.对于硅胶吸附剂,其含水量越少,吸附能力越______,同一组分在此硅胶上的Rf越_____。
7.在水溶液中,弱酸能够被准确滴定的判据是__________________________________ 。
8.对全新化合物及结构复杂的化合物的化学结构确证,除使用红外光谱外,还需要使用________、__________及____________谱实施综合解析。
9.在薄层色谱法中,分离极性的组分,宜选用__________的吸附剂,以极性__________的展开剂展开。 展开
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