劈尖实验中,所能改变待测薄片位置,干涉条纹有何变化为什么

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sjzwuww
2018-01-19 · TA获得超过1.2万个赞
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待测薄片向里移动,使得劈尖角增大,干涉条纹变密;
反之变疏。
创视智能
2023-06-12 广告
光谱共焦测厚度是一种通过光谱共焦位移传感器来测量材料厚度的方法。该方法适用于各种材料表面,包括透明、半透明、膜层和金属粗糙面等。该方法利用传感器在不同波长处的响应差异来确定被测材料的厚度。光谱共焦测厚仪可以测量厚度范围从几微米到几百微米不等... 点击进入详情页
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