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采用ZM100测厚仪检测:将薄膜套在标准轴上,通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径,间接检测薄膜的厚度。精度5um.。透明薄膜厚度测量控制仪采用激光三角测量技术进行在线厚度测量,由计算机控制扫描机构,得到厚度的实时测量值和厚度与测量点位置的分布关系曲线。采用该系统不但能提高电池极片,透明薄膜生产的自动化程度,而且能大大提高产品质量的稳定性、减少原材料的消耗、减少手工测量造成的人为干扰因素和误差。

2023-06-13 广告
目前有许多椭偏仪可以用于测量纳米薄膜的厚度,其中一些最精确、功能最强大的椭偏仪可能包括:1. EIS01成像光谱椭偏仪:这是一款由美国Angstrom公司开发的椭偏仪,它具有高精度、高分辨率和广泛的测量范围,可以用于测量纳米薄膜的厚度和折射...
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