薄膜干涉的作用
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武汉颐光科技有限公司
2023-06-13 广告
2023-06-13 广告
目前有许多椭偏仪可以用于测量纳米薄膜的厚度,其中一些最精确、功能最强大的椭偏仪可能包括:1. EIS01成像光谱椭偏仪:这是一款由美国Angstrom公司开发的椭偏仪,它具有高精度、高分辨率和广泛的测量范围,可以用于测量纳米薄膜的厚度和折射...
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薄膜干涉的作用:
使被检测平面和标准样板间形成空气薄层,用单色光照射,入射光在空气薄层上下表面反射出两列光波,在空间叠加,干涉条纹均匀:表面光滑;不均匀:被检测平面不光滑。
薄膜干涉
简介由薄膜产生的干涉。薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光,折射光经薄膜下表面反射,又经上表面折射后得第二束光,这两束光在薄膜的同侧,由同一入射振动分出,是相干光,属分振幅干涉。若光源为扩展光源(面光源),则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉,故属定域干涉。对两表面互相平行的平面薄膜,干涉条纹定域在无穷远,通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察;对楔形薄膜,干涉条纹定域在薄膜附近。
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