Question

雷达物位计的测量原理

Answer 1

因为3d雷达物位计是在太赫兹调频连续波FMCW测距的基础上，由雷达传感器进行多维高分辨率扫描料仓内的物料，根据信息进行运算处理，融合图像处理、大数据分析、从而呈现三维可视化图像，并据此计算获得 体积、质量、料位等相关参数。所以非常考验设备生产商的硬件能力与软件研发能力：

1. 首先，雷达是否采用太赫兹雷达信号，是否耐粉尘，能否经的住雨雾等复杂工况影响；——这决定设备的耐用与适用性；

2. 询问设备的测量误差是多少？测量的量程有多大？————测量精度要在??2mm以上，量程最少在100m以上；

3. 扫描的路径是否可规划，检测周期、刷新速度是否可调节？——这影响工作效率，所以一定要可以根据实际的情况可以调节；

4. 是否能够直观的呈现料仓的状况，例如三维立体成像，还原料仓无聊实际形态————这更加便于掌握料仓的状态，也考验设备商的软件能力；

5. 可以测量哪些数据？料位、体积、质量是否都可以测量——这决定考验了设备商的软硬件的综合能力，硬件数据采集能力，软件数据分析能力；

6. 是否的可以实现24小时全天候的盘库与丈量，是否可以移动设备的监控操控——这就实现了远程的监控，避免了人工爬罐；

7. 是否可以与企业的其他的工业数字化系统可以集成？采用什么样的数据传输方式？——这决定了的3d的设备是否真的实现了数字化与智能化，而不仅仅是信息孤岛；

8. 工作的环境的是多少度，设备是否可以在此温度下正常显示无误差；

9. 是否是特殊的工况，在安装与使用上是否有特殊的需求；

目前在在3d雷达领域，北京锐达是这个领域的先行者；锐达一直专注于工业雷达产品的研发、生产与集成，提供测量系统解决方案。锐达的3d雷达物位计拥有180+项技术专利与知识产权，并获得多项国际认证。北京锐达有独立的研发中心，已经成了17年了，先后自主研发生产近百种产品，满足客户各种工业测量场景和需求，通过研发中心的创新技术为客户量身打造定制化解决方案，是客户心中中国工业自动化测控领域的技术变革者；

Answer 2

雷达物位计运用原理：雷达物位计是将发射能量很低的很短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和准确的测量。雷达物位计即使在工况比较复杂，存在虚假回波的情况下，其用新的微处理技术和调试软件也可以准确的分析出物位的回波。

天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路，微处理器对此信号进行处理，识别出微脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比：D=C×T/2其中C为光速，因空罐的距离E已知，则物位L为：L=E-D

通过输入空罐高度E（=零点），满罐高度F（=满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4－20mA输出。

应用介质：雷达物位计适用于对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量，适用于温度、压力变化大；有惰性气体及挥发存在的场合。采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常工作。波束能量较低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对人体及环境均无伤害。

Answer 3

如何才能保证雷达物位计测量数据准确性

1.过溢保护，针对这种情况可以制定一个相应距离即为盲区。

2.测量范围的大小与天线相关，因为不同规格的天线，它的精准度是不相同的。

3.测量范围是从微波光束到容器底的那一点算起，但是在容器呈锥子或者凹形时，当被测量的物体低于标准点时，就没有办法进行测量。从而导致测量数据不精确。

4.当被测物体的介质介电常数较小，且被测物体处于低液位的时候，为保障测量结果的精度，应将零点进行调整。

5.如果被测物体易产生泡沫，需注意，随着浓度的不同，泡沫既可以吸收微波，也可以反射微波，但是在一般正常的情况下是可以进行测量的。

6.理论上，当测量结果反馈到天线顶端即可接收，但是考虑到会出现侵蚀或者粘附的情况，建议测量终值应与天线的顶端间隔100mm。