Question

怎样检查光耦的好坏？

Answer 1

检查光耦（光电耦合器）的好坏主要有以下几种方法：

• 外观检查：检查光耦的外观是否有损坏或裂纹等。

• 使用万用表检测：用万用表测量光耦内部二极管及三极管的正反向电阻值，如果与正常值相差过大，说明光耦可能已损坏。例如以PC111光耦检测为例, 检测时将光耦内接二极管的+端 {1}脚和-端 {2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，置万用表于NPN挡。

• 比较法：拆下疑似有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，若阻值相比好的光耦对应脚的测量值相差较大，则可能光耦已坏。

• 观察示波器波形：将光耦的输入端接入示波器，然后逐渐增加电压，同时观察示波器上显示的波形是否正常。

• 测试工作电压：使用万用表或示波器测量光耦的输入和输出端电压，由此判断其工作状态。

• 光耦传输特性测试：光耦的传输特性是指光耦在不同输入电压条件下的光敏器件输出电流的变化情况。我们可以通过改变输入端电压，同时测量输出端电流来测试光耦的传输特性。

Answer 2

如何检查光耦的好坏：
判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
1、比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2、数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图1所示。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe 的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
3、光电效应判断法仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。将万用表置于RX1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节1．5V的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
光耦

用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25，采用DIP-6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
1、判断发光二极管好坏与极性：用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。