有关三极管的时间参数--延迟时间td,上升时间tr,存储时间ts和下降时间tf
三极管的时间参数:延迟时间td,上升时间tr,存储时间ts和下降时间tf,针对这些时间参数,我有以下几个问题,希望大家能帮忙解答一下,先谢谢各位朋友了。1、三极管的时间参...
三极管的时间参数:延迟时间td,上升时间tr,存储时间ts和下降时间tf,针对这些时间参数,我有以下几个问题,希望大家能帮忙解答一下,先谢谢各位朋友了。
1、三极管的时间参数是不是随基极电流Ib、集电极电流Ic、Vce的大小变化而变化?
2、如果时间参数是随着三极管电流、电压大小而变化的,那么基极电流Ib、集电极电流Ic、Vce越大,时间参数越大还是越小?
例如我在Ib=0.1A,Ic=1A时测到的这4个时间参数和Ib=0.5A,Ic=5A测得的时间参数是不是不一样?哪个测试条件下测得的时间参数大?
我之所以问这个问题是因为有一个电路要求对三极管进行参数特选,也就是要求放大倍数、时间参数等关键数据都要在很 苛刻的一 个范围内才可以使用,目前由于手册上测试三极管时间参数的条件和实际特选时的测试条件不一致,导致对买回来的三极管进行复测时时间参数基本都不合格,都偏大,所以请教大家帮忙分析一下。
飞机直流电源系统一个控制器的电路,电路中大部分三极管都需要特选的,我自己也搞不明白是不是一定要这么严格的筛选。 展开
1、三极管的时间参数是不是随基极电流Ib、集电极电流Ic、Vce的大小变化而变化?
2、如果时间参数是随着三极管电流、电压大小而变化的,那么基极电流Ib、集电极电流Ic、Vce越大,时间参数越大还是越小?
例如我在Ib=0.1A,Ic=1A时测到的这4个时间参数和Ib=0.5A,Ic=5A测得的时间参数是不是不一样?哪个测试条件下测得的时间参数大?
我之所以问这个问题是因为有一个电路要求对三极管进行参数特选,也就是要求放大倍数、时间参数等关键数据都要在很 苛刻的一 个范围内才可以使用,目前由于手册上测试三极管时间参数的条件和实际特选时的测试条件不一致,导致对买回来的三极管进行复测时时间参数基本都不合格,都偏大,所以请教大家帮忙分析一下。
飞机直流电源系统一个控制器的电路,电路中大部分三极管都需要特选的,我自己也搞不明白是不是一定要这么严格的筛选。 展开
4个回答
展开全部
你们无聊的导师在无聊你们对不对啊!!!!!
第一ib确实可以影响时间,电流越大越快,但是应该只是开启比较明显,关闭不是太明显,而且即使是开启的速度增加也是微乎其微的!!!时间变化主要是由于三极管的输入电容!!!不过好在三极管是电流控制器件,所以有影响,但是影响不大,至于那个负载,肯定是负载阻抗越小速度越快的,不过具体快多少还的看电路,因为负载电阻相当于等效电路的Ro,但是会明显影响放大倍数的!!!
速度不够对吧,明显是你们的垃圾xxxx!!!还电路结构啊,共基共集电极组合电路啊,明显提高反应速度,再不就是换VMOS啊至少可以快一个数量级!!!
你们老师搞什么飞机啊!!!小孩子的作业啊!!!鄙视他祖宗十八代
Sievers分析仪
2024-10-13 广告
2024-10-13 广告
是的。传统上,对于符合要求的内毒素检测,最终用户必须从标准内毒素库存瓶中构建至少一式两份三点标准曲线;必须有重复的阴性控制;每个样品和PPC必须一式两份。有了Sievers Eclipse内毒素检测仪,这些步骤可以通过使用预嵌入的内毒素标准...
点击进入详情页
本回答由Sievers分析仪提供
2009-04-30 · 知道合伙人教育行家
关注
展开全部
能否补充一下是什么电路有这么严格的要求。
1.三极管的时间参数td,tr,ts,tf主要取决于三极管的内部构造,结电容越小,基区越薄,则结电容充放电时间就越短,基区中储存的电荷数量也越少,因此开关时间就越少。
2.ton,toff的大小还和电路的工作条件有关,例如增加输入电流IB时,开启时间TON变小,减小RC使ICS增大时,上升时间TR增大,加深三极管的饱和深度,会使存储时间TS增大。
3.IB=0.1A与IB=0.5A的区别:开启时间变小。存储时间变大,
这个电路要求对三极管进行参数特选,放大倍数、时间参数是重点。由于手册上测试三极管时间参数的条件和实际特选时的测试条件不一致,导致对买回来的三极管进行复测时时间参数基本都不合格,都偏大,所以,建议你在选型时要提高一个档次去找开关管,这样回来测试就容易合格了。
1.三极管的时间参数td,tr,ts,tf主要取决于三极管的内部构造,结电容越小,基区越薄,则结电容充放电时间就越短,基区中储存的电荷数量也越少,因此开关时间就越少。
2.ton,toff的大小还和电路的工作条件有关,例如增加输入电流IB时,开启时间TON变小,减小RC使ICS增大时,上升时间TR增大,加深三极管的饱和深度,会使存储时间TS增大。
3.IB=0.1A与IB=0.5A的区别:开启时间变小。存储时间变大,
这个电路要求对三极管进行参数特选,放大倍数、时间参数是重点。由于手册上测试三极管时间参数的条件和实际特选时的测试条件不一致,导致对买回来的三极管进行复测时时间参数基本都不合格,都偏大,所以,建议你在选型时要提高一个档次去找开关管,这样回来测试就容易合格了。
本回答被提问者采纳
已赞过
已踩过<
评论
收起
你对这个回答的评价是?
展开全部
如果是Juno的DTS-1000的测试机, 可以在Juno的测试软件里调试CT的测试时间
' E* w! _5 o+ [ b9 D5 U! m7 z具体的方法如下:$ n4 o: F- x0 W( y
用manual test method固定待测物与probe card 下, D% X( N5 I U) c; ^, ^2 |8 l6 m
打开调试程序(具体的忘了叫什么名陈的文件夹), 先设500uS, 然后手动测试, 观察你的测试结果; . t6 r$ D t2 g8 P! w+ D6 q q
接着再设450uS.. 400uS..350uS.. 300uS, 一直这样下去, 直到你的测试读值稳定下来; 那么起始的那个测试时间就是你所需要的条件了;' b) W7 D9 k" E v2 i% C6 a
每个参数的测试时间都可以通过这个方式完成
' E* w! _5 o+ [ b9 D5 U! m7 z具体的方法如下:$ n4 o: F- x0 W( y
用manual test method固定待测物与probe card 下, D% X( N5 I U) c; ^, ^2 |8 l6 m
打开调试程序(具体的忘了叫什么名陈的文件夹), 先设500uS, 然后手动测试, 观察你的测试结果; . t6 r$ D t2 g8 P! w+ D6 q q
接着再设450uS.. 400uS..350uS.. 300uS, 一直这样下去, 直到你的测试读值稳定下来; 那么起始的那个测试时间就是你所需要的条件了;' b) W7 D9 k" E v2 i% C6 a
每个参数的测试时间都可以通过这个方式完成
已赞过
已踩过<
评论
收起
你对这个回答的评价是?
展开全部
不太清楚
已赞过
已踩过<
评论
收起
你对这个回答的评价是?
推荐律师服务:
若未解决您的问题,请您详细描述您的问题,通过百度律临进行免费专业咨询
广告 您可能关注的内容 |